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Experimental Study of the Impact of Temperature on Atmospheric Neutron-Induced Single Event Upsets in 28 nm Embedded SRAM of SiP
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商品詳細情報
| 管理番号 |
新品 ：72829111579
中古 ：72829111579-1 |
メーカー | e2380 | 発売日 | 2025-04-26 11:28 | 定価 | 35000円 | ||
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| カテゴリ | |||||||||
Experimental Study of the Impact of Temperature on Atmospheric Neutron-Induced Single Event Upsets in 28 nm Embedded SRAM of SiP
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